測量單模跳線的插入損耗似乎很簡單，但要考慮一些復雜因素。
插入損(sun)耗(hao)是一個相對的度量，它是在光電路中添(tian)加一個附加無源(yuan)元(yuan)件時(shi)的功(gong)(gong)率降低。所以，測(ce)量插入損(sun)耗(hao)是一個兩部分的過(guo)(guo)程-測(ce)量通過(guo)(guo)基準路而到來的功(gong)(gong)率，那(nei)么DUT后電源(yuan)已(yi)插入。區別是IL。
未配對(dui)光纖連(lian)接器(qi)的損耗可以通過數學估算，但無(wu)法測量，只能測量一對(dui)配對(dui)連(lian)接器(qi)的連(lian)接。
在實(shi)際(ji)的測量設置(zhi)中(zhong)，測試(shi)光(guang)(guang)纖用于向（從）被(bei)測設備(bei)傳(chuan)輸（有時收集）光(guang)(guang)。因此，這些測試(shi)光纖的(de)質量(liang)與DUT報告的(de)IL有直(zhi)接關系，因為測試(shi)光纖始終(zhong)是(shi)所(suo)測連(lian)(lian)接的(de)(de)(de)一部分。不幸的(de)(de)(de)是(shi)，不可能(neng)以任何有意義的(de)(de)(de)方式來劃(hua)分測得的(de)(de)(de)測試(shi)連(lian)(lian)接器(qi)/ DUT連(lian)(lian)接器(qi)損耗，并將損耗的(de)(de)(de)一部分分配給(gei)測試(shi)光纖，將其余部分分配給DUT。如果測試連接(jie)器在每個細節上都(dou)是完(wan)(wan)美的，則(ze)所(suo)(suo)有損(sun)耗(hao)都(dou)可歸因于DUT，但(dan)沒有光(guang)纜是完(wan)(wan)美的，所(suo)(suo)有光(guang)纖連接(jie)器都(dou)會(hui)引入(ru)一(yi)些損(sun)耗(hao)，盡管損(sun)耗(hao)很小(xiao)，包括測試光(guang)纖。
連接(jie)損(sun)耗的很大一部(bu)分是(shi)由于(yu)光(guang)纖連接(jie)(jie)器的(de)一個(ge)或多個(ge)幾何參數不(bu)匹配造成的(de)。考(kao)慮“橫(heng)向(xiang)纖芯(xin)(xin)偏移(yi)(yi)”，其(qi)中(zhong)纖芯(xin)(xin)與(yu)套(tao)圈并非完全同心。如果配對(dui)的(de)連接(jie)(jie)器具有不(bu)同的(de)偏移(yi)(yi)量或沿不(bu)同的(de)方向(xiang)偏移(yi)(yi)，則某些光將被(bei)引(yin)導(dao)到包層中(zhong)并丟失(shi)。這種偏移(yi)(yi)可能是由(you)于芯(xin)(xin)子未居中(zhong)的(de)光纖，帶有不(bu)同心的(de)光纖孔的(de)不(bu)良插(cha)芯(xin)(xin)或組裝不(bu)良導(dao)致的(de)雜物將光纖推向(xiang)插(cha)芯(xin)(xin)孔的(de)一側(ce)。對(dui)于單模連接(jie)(jie)，偏移(yi)(yi)為0.3微米(mi)將產生(sheng)約(yue)0.4 dB的(de)損耗
跨一對連(lian)接器的失調損耗的一個重要方面是，它不是一個簡單的標量，而是取(qu)決于失調的方向。如果(guo)偏(pian)移量具有(you)相同的程(cheng)度和(he)方向，則(ze)磁(ci)芯將匹配，并且損耗可能(neng)很(hen)小，但以相反的方向定向則(ze)會(hui)產生(sheng)高損耗。
這種定向效(xiao)應會(hui)產(chan)生一些令人不安(an)的(de)(de)結(jie)果(guo)。在雙(shuang)測試光纖測量中，如果(guo)發射和接收光纖在相反方向上有(you)偏移(yi)，則參考路徑（將它們連接在一起時(shi)）將具(ju)有(you)明顯(xian)的(de)(de)損耗。
