您每天都可以與我們聯系，以獲取有關光纖組件測試和檢查支持的資源。IL / RL結果下降是我們提供的技術專長，用于建立嚴格的生產控制。隨著我們制定定制的程序準則來評估測試光纖的狀況，軌道使用情況以及合理的更換時間表，許多有用的提示變得突出。
為(wei)了快速參(can)考，我們(men)整理了一些技巧，可以幫助您(nin)改善連(lian)接過(guo)程。
提示1：參(can)考后檢查(cha)測(ce)試設(she)置的穩(wen)定性(xing)
執(zhi)行IL參考后，將測試導線(xian)直接連(lian)接到(dao)功率(lv)計，并在工作臺上(shang)稍微移動參考光纖時觀察IL值。功率電平變化應(ying)該很小(xiao)（最多(duo)0.00 +/- 0.02左右(you)）。如(ru)果(guo)在移動參考(kao)光纖(xian)時功率水平發生變化，則測試布局中可能存在問題（彎曲/擠壓光纖或光纖適配器連接不良等）。
提示(shi)2：確定高損耗(hao)原因
較(jiao)高的波(bo)長對(dui)光纖過度彎曲造(zao)成的損(sun)耗更(geng)敏(min)感。較(jiao)低的波(bo)長對(dui)適(shi)配器中(zhong)光纖未對(dui)準造(zao)成的損(sun)耗更(geng)敏(min)感。如(ru)果(guo)您正在測試SM光(guang)纖并且無法達到IL規格，請查看1310nm和1550nm處的IL結果。在理想環境中，兩個結果都應該“相等”（大約在0.02 dB之內）。如果1550的結果遠高于1310，則造成損耗的主要原因可能是組件中某處的纖維過度彎曲。如果1310結果遠高于1550，則造成損耗的主要原因可能是光纖連接器配合處光纖與光纖之間的對準不良。
提示3：在連接之前，確保密封墊圈(quan)干燥(zao)
酒精通常在配(pei)對(dui)之(zhi)前用于(yu)清潔(jie)端(duan)(duan)面。如(ru)果端(duan)(duan)面上殘留任何(he)液體(ti)，則在與另(ling)一(yi)個(ge)(ge)連接器配(pei)合(he)使用時，它(ta)可以(yi)充當“折射率匹(pi)配(pei)”的(de)(de)(de)液體(ti)，從(cong)而導(dao)致RL值異常高。為了確保(bao)獲得準確的(de)(de)(de)RL結果，請確保(bao)端(duan)(duan)面清潔(jie)并在配(pei)對(dui)前干燥（注(zhu)意：這是始終建議使用99％+的(de)(de)(de)純酒精進行清潔(jie)的(de)(de)(de)另(ling)一(yi)個(ge)(ge)原因，因為較低的(de)(de)(de)純度包含較高百分比的(de)(de)(de)水，并且不(bu)會(hui)很快蒸發(fa)）。
提示4：不(bu)可能(neng)出現IL負值(zhi)
當您將光插入光纖(xian)組件的一(yi)端時(shi)，另一(yi)側總(zong)會有(you)更少的光(guang)(guang)出(chu)射-總(zong)是(shi)有(you)一(yi)定量的光(guang)(guang)損(sun)失(shi)-無源光纖組(zu)件不(bu)可能發光。如果您(nin)在光(guang)纖組件上(shang)測(ce)試IL，結(jie)果為負值（意味著，您(nin)得到的(de)組件OUT的(de)光比測(ce)試導線所輸入的(de)更(geng)多），則您(nin)的(de)設置參考無效，需要歸零再次。
提示5：保護探測器
為了獲(huo)得準確(que)的IL結果，至關重要的是，測試(shi)系統的光電探(tan)測器(qi)(qi)必(bi)須干(gan)凈且(qie)無刮擦或其(qi)他此類缺陷。應(ying)當定期檢(jian)查(cha)檢(jian)測器(qi)(qi)的表(biao)面，并根(gen)據需要進行清潔(jie)(jie)（用5倍放(fang)大倍數的放(fang)大鏡檢(jian)查(cha)就足(zu)夠了）。但是在(zai)清潔(jie)(jie)時(shi)要非常小心，請參閱測試(shi)系統用戶手冊(ce)以了解(jie)正確(que)的檢(jian)測器(qi)(qi)清潔(jie)(jie)方(fang)法-一些(xie)檢(jian)測器(qi)(qi)表(biao)面具有(you)抗(kang)反射涂層膜(mo)，如果用酒精清潔(jie)(jie)，則該(gai)膜(mo)會降解(jie)。
損壞的光(guang)電(dian)探測器可能會(hui)導(dao)致主要(yao)的測試問題，并且(qie)維修起(qi)來(lai)非(fei)常昂貴(gui)且(qie)耗時(shi)。請務必與(yu)設備制造(zao)商聯系，以(yi)進行(xing)推(tui)薦的光(guang)電(dian)探測器保養。
提示6：測試(shi)線質量
正如(ru)他們所說，“一條鏈是最(zui)強的(de)環節，卻是最(zui)薄弱的(de)環節”。對于IL和RL測(ce)試系統(tong)，最(zui)薄弱的(de)環節通(tong)常是測(ce)試線(xian)。即使(shi)使(shi)用最(zui)好的(de)信號源和功(gong)率計，如(ru)果(guo)您的(de)測(ce)試線(xian)質量(liang)較差(cha)，則(ze)IL結果(guo)的(de)準確性和可(ke)重復性也(ye)很(hen)差(cha)。測(ce)試線(xian)的(de)芯對套圈外徑同心(xin)度(du)對于獲得準確且可(ke)重復的(de)IL結果(guo)至關重要-尤其是在(zai)測(ce)試單模(mo)時，因為(wei)芯體(ti)很(hen)小（?8um），即使(shi)很(hen)小的(de)離心(xin)率也(ye)會導致明(ming)顯的(de)芯體(ti)偏移(yi)與(yu)DUT配合使(shi)用時，會給出錯誤的(de)IL測(ce)量(liang)值。
測試(shi)導(dao)線套(tao)圈(quan)應(ying)具有最高質量和(he)最嚴(yan)格的(de)尺(chi)寸公差(cha)，并且(qie)應(ying)拋光以達到或(huo)超(chao)過幾何(he)和(he)外(wai)觀的(de)典型行(xing)業標準，并且(qie)芯對套(tao)圈(quan)的(de)外(wai)徑偏(pian)心值(zhi)為0.5um或(huo)更(geng)少。（同樣，對于較(jiao)(jiao)小(xiao)的(de)纖芯尺(chi)寸，這比較(jiao)(jiao)大的(de)纖芯尺(chi)寸更(geng)為重(zhong)要，因(yin)為對于較(jiao)(jiao)小(xiao)的(de)纖芯纖維，任何(he)偏(pian)心效果都會更(geng)加明顯）。當其他一(yi)切看起來不(bu)錯(cuo)，但(dan)結果似乎仍然不(bu)正(zheng)確時(shi)，請考慮(lv)存儲并使用主光纖測試(shi)測試(shi)線。
提示7：測試前設備連接器的檢查(cha)和清潔(jie)
測試之前，在儀器(qi)的(de)動態范圍內，設(she)(she)備接口連接器(qi)的(de)“空中參考(kao)”回(hui)波(bo)損(sun)耗讀(du)數至少應為(wei)65 dB，這一點很重(zhong)要。MAPS通常為(wei)-75及以下。檢查(cha)過程取決于(yu)設(she)(she)備制造(zao)。致電我們了解詳情。
此外，必須遵守使(shi)用(yong)前的“檢查和清潔”舊規定。設備(bei)連接(jie)器(qi)上的灰塵和光纖(xian)端(duan)面損壞(huai)(huai)會影響(xiang)讀(du)數，并可(ke)能損壞(huai)(huai)DUT。合適(shi)的探頭范(fan)圍(wei)和尖端(duan)是絕對的，因為大多數連接(jie)器(qi)接(jie)口都(dou)不容易接(jie)近。您不能僅依靠棉(mian)簽清潔。
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