在標準的單模跳線中，用于插入損耗測試的兩個波長分別為1310nm和1550nm。所有單模光纖在任一波長下的工作情況都非常相似-也就是說，您無需根據波長購買光纖，一根光纖就可以適合所有波長。因此，如果您的光纖組件使用優質的材料和良好的技術正確構建，則在1310或1550上進行測試時，任何給定光纖連接器的插入損耗值都應該非常相似。
這導致一些生產商僅使用一個波長來測試其產品，僅在客戶特別需要時才測試兩個波長。在兩個波長下進行測試都需要額外的設備，在某些情況下似乎不過是“必要的邪惡”。但是，使它成為在1310和1550上測試所有光纜組件的標準做法是有好處的：1310nm和1550nm測試波長之間的插入損耗變化對于確定產品和/或工藝的嚴重問題非常有幫助。
解決產品的任何單模插入損耗測試問題的一個有用技巧是記住以下幾點：
（1）1310nm對對準問題更敏感
（2）1550nm對光纖彎曲問題更敏感
（3）1310和1550類似
如果制作得當，光纖組件將在1310或1550上測試大致相同。1550插入損耗的結果通常要好百分之幾dB，這部分是由于其較低的光纖衰減。通常，連接器的插入損耗值在1550時比1310好的?0.01-0.05 dB。
（4）1310高于1550
A連接器或整個產品設計，在1310時的插入損耗明顯高于在1550時的插入損耗，表明兩個配對的插芯之間的芯對芯對準可能存在問題。差異可能很小，實際上是可以接受的。失準越大，與1550相比，1310時的插入損耗就越大。失準的原因可能是由于許多因素引起的，最常見的原因可能是產品和測試組件受到污染，或者是光纖芯對金屬套圈的同心度差。
希望可以消除污染，并且可以改進之前的制造過程以在測試之前消除污染。但是，同心度差通常是使用過大的密封墊圈造成的，因此，如果不更換連接器，則無法改善插入損耗。“相對尺寸過大”是相對的：套圈孔的直徑大于光纖外徑，則光纖最多能夠在套圈中心側坐下，因此預期的插入損耗（1310）更大。
（5）1550比1310高
一個連接器或整個產品設計，在1550時的插入損耗明顯比在1310時高，這表明光纖組件中某處的光纖上可能存在應力點-最有可能是光纖彎曲超過工作彎曲半徑，或產品內某處的光纖“捏”或微彎。應力越高（彎曲越大），與1310相比，在1550處的插入損耗就越高。但是，盡管上述纖芯偏移問題通常是原材料選擇的正常結果，但直接施加在光纖上的任何過大應力都代表著嚴重的問題。產品可靠性存在風險，因此IL值@ 1550對于監視和排除故障尤為重要。
