在經過正確校準的IL / RL儀表上進行測量時，我的某些跳線顯示出增益。這怎么可能？由于跳線無法獲得增益，是儀器有問題嗎？如果您的IL / RL測量儀已正確校準，則儀器可能沒有任何問題。要了解這個令人費解的問題，我們必須查看測量方法。
請記住，不可能單獨測量跳線。它需要連接到某物–需要測試跳線
一種測試方法使用一對測試跳線：啟動和接收。將它們連接在一起以進行參考，然后將被測設備（DUT）插入它們之間。這樣就得出了跳線的總插入損耗，包括兩端的連接。IL儀表僅報告基準和測量連接之間的功率差異。
如果測試光纖連接器是完美的，則它們在參考階段不會造成任何損失。測量的任何損失都可能是由于DUT的連接器或光纖中的缺陷。如果測試光纖存在幾何誤差，則參考時偏離適當居中狀態可能會產生損耗。
在最壞的情況下，偏移量將為180度。如果DUT恰好在每個端都有偏移量以匹配測試光纖，則在某種程度上它將抵消偏移量的影響。因此，測量損失（由于這種影響）將小于參考損失，并且光纖的插入損耗將為負，這似乎具有增益！
通常，測試跳線偏移將相對于被測設備處于隨機方向，其他損耗影響可能更大。效果是從DUT的真實IL中隨機增加或減去少量。但是有時會出現實際的增益。
作為附帶說明，我建議使用高質量的測試跳線，以幫助確保準確的插入損耗測量。顯然，要確定跳線的性能，必須使用其他光纖，這些光纖的質量會影響被測設備的測量結果。您可以使用高質量的跳線，但是對于您的生產設施而言，它們可能會非常昂貴。另一方面，使用來源不明的廉價跳線不是一個好主意。我建議您購買由成熟的一流制造商生產的高質量跳線，嘉富在此提供。
如果您對測試跳線有疑問，請隨時與我們的技術專家聯系，我們將盡快答復。我們的目標是提供信息和教程，以便您可以不斷改善測試過程。
如何準確測量IL / RL –本文討論了為什么測量插入損耗和回波損耗很重要，以及如何精確測量IL / RL。另外，我提供有關在測量RL時是否使用心軸套，折射率匹配凝膠或光學時域反射儀（OTDR）的具體建議。
IL / RL差的原因是什么？–在這次詳盡的討論中，我處理了多個生產問題，這些問題可能會導致不良的插入損耗和回波損耗，并提出了解決這些問題的具體建議。
插入損耗測量，而不是一項瑣碎的任務–如果您的生產設備是新的，是否應該制造自己的發射跳線？至少在最初，這可能不是一個好主意。另外，您知道發射跳線應該使用相同的光纖類型，而不僅僅是相同的大小嗎？
環通量–相對非技術性的概述– IEC 61280-4-1標準規定了在發射到被測設備中時光（通量）的分布。“環繞光通量”是一種相當宏偉的方式，可以說出磁芯內給定尺寸的每個圓圈內的光量。
雙向測試是將所有光學測試時間縮短一半的靈丹妙藥嗎？許多光纖裝配廠都希望進行雙向測試以節省時間。但是，有些不能正確使用此測試方法。
